DX-HAST350F電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱
電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test)是一種用于加速電子元件、集成電路、電子設(shè)備等在濕熱環(huán)境下老化過程的設(shè)備。該試驗(yàn)箱通過模擬高溫、高濕的環(huán)境,快速測試電子元件在高應(yīng)力條件下的耐久性和可靠性,通常用于質(zhì)量控制和產(chǎn)品驗(yàn)證階段。
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更新日期
2024-12-14 - 02
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家 - 03
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